Dear Allen， 如我们之前提供贵司的报告信息，目前die sa

Dear Allen，

如我们之前提供贵司的报告信息，目前die saw 的40片中几乎每一片均有如报告中的轻微污染，其中有一片比较严重，

且污染面积已经占单颗芯片背面面积的5%；

A, 针对轻微的芯片，我司品保已经同技术分析，我司建议可以下传，且会加大针对DB void 的测试；

B,针对严重的wafer,我司建议报废处理，因为严重污染会造成void 的异常，导致产品热阻和可靠性的风险；且有可能逃脱过测试，
所以我司建议报废处理；如果贵司出于yield的考虑，我司同样会针对此芯片的批次的void 加大测试，但无法保证100%的筛选；如果
有逃脱过finall test 的异常品，我司可能无法去承担责任；

所以以上请贵司知悉并谅解，且请麻烦告知贵司是否同意我司的建议，或者告知贵司的其他处理意见？ 以上谢谢；

결과 (한국어) 1:

친애 하는 Allen， 전에 보고서 정보를 제공 하는 우리가 지금 다 보고 거의 40의 모든 조각을 보고는 더 심각 하다 약간의 오염단일 칩 다시 오염 지역은 5%; A, 작은 칩에 대 한 우리의 품질 보증에 동일한 기술적인 분석, 다운로드 수, 그리고 무효; DB에 대 한 테스트를 증가 하는 것이 좋습니다 B, 심각한 환경 오염으로 인해 심각한 요금 처리에 대 한 웨이퍼 열저항의 위험과 제품 및 가능 하 게 탈출 테스트, 신뢰성에서 발생 되는 예외로 무효 귀 착될 것 이다 그래서 좋습니다 스크랩을; 고려를 항복, 마찬가지로 칩 증가 테스트,이 일괄 처리에 대 한 무효화 됩니다 하지만 보장은 없습니다 100% 필터; Finall 테스트 예외 탈출 우리 수 없습니다 책임; 그래서 더 당신이 알고 및 이해, 및 문제가, 그것은 우리의 권고와 동의 여부 통보 하거나 다른 의견을 알려? 더 많은 감사.

결과 (한국어) 2:

친애하는 알렌, 우리가 이전에 정보를보고 기업을 제공 한 바와 같이, 현재 40 다이 영화는 거의 모든 부분이 더 심각한 가지고 약간의 오염 보고서를 가지고, 본 과 지역의 오염이 단일 칩의 뒷면의 면적의 5 %를 차지하고있다 ; A, 약간의 칩, 우리의 품질 보증이 통과 할 수 우리의 제안에 따라, 기술적 분석을하고있다, 그리고 DB 무효에 대한 테스트를 증가, 심각한 웨이퍼, B, 우리의 제안 때문에 심각한 오염 폐기 저항과 제품의 신뢰성의 위험을 선도, 비정상의 무효 발생합니다 그리고, 가능 탈출 검사를 마친 우리의 제안은 폐기 단계; 수율 고려 사항에 대한 당신의 회사가, 우리의 회사는 또한이 일괄의 칩 경우 증가 테스트 무효,하지만 100 % 차단을 보장 할 수 없습니다 경우 비정상적인 제품의하면 마지막 테스트가 탈출 한, 우리 회사는 책임을 할 수 없을 수도 있습니다 그것은 당신의 회사와 이해의 인식보다 더 많은, 그리고 당신의 회사가 문제 부문을 동의하는 경우 저희에게 알려주십시오 I 의견의 추천 혹은 다른 문제는 당신의 회사를 알려? 위의 감사;

결과 (한국어) 3:

Dear Allen,

만약 우리 전에 보고 정보 제공 귀사에서 현재 die saw 40 영화에서 거의 모든 온통 모두 만약 보고서의 경미한 오염이 그중 온통 비교적 심각한 오염 면적

뿐만 아니라 이미 우위 외알배기 칩 뒷면에 면적 5%;

A, 가벼운 칩 대해 우리 회사는 부품 보증 이미 같은 기술적 분석, 우리 회사는 건의를 다음 전해 줄 수 있을 뿐만 아니라 크게 겨냥한 DB void 테스트;

B 심각한 wafer 대해 우리 회사는 건의를 폐기 처분 때문에 심각한 오염 될 수 void 이상이 제품 열저항 및 신뢰성 가져올 수도 있다; 고 탈출 적이 테스트,
그래서 회사는 건의를 폐기 처분;만약 귀사에서 나온 yield 고려, 우리 회사는 같은 겨냥 이 칩 있는 lot 의 void 커지다 테스트, 그러나 장담할 수가 100% 필터; 만약
탈출 적이 finall test 이상이 품 있고, 우리 회사는 아마도 갈 수 없는 책임을 지다;

그래서 이상 누구도 결코 양해 좀 귀사에서 뿐만 아니라 제가 좀 麻烦告知贵司 여부 회사는 제안 또는 알려 귀사에서 다른 처리 의견이 있습니까?이상 감사합니다;