Interference microscopy, traditiona

Interference microscopy, traditionally limited to surface
topography measurements of opaque structures, has
made the transition to a much more flexible technique
that not only accommodates transparent films, but
provides a films analysis capability that complements
conventional ellipsometry and reflectometry. The three
techniques described illustrate this transition.

결과 (한국어) 1:

간섭 현미경, 표면에 전통적으로 제한불투명 구조, 지형 측정 했다변화를 훨씬 더 유연한 기술그 뿐만 아니라 투명 한 필름을 수용 하지만보완 영화 분석 기능을 제공 합니다.기존의 ellipsometry 고 셋입니다. 3설명이이 전환을 보여 줍니다.

결과 (한국어) 2:

전통적으로 표면에 한정 간섭 현미경,
불투명 한 구조의 지형 측정은있다
훨씬 더 유연한 기술로의 전환 만든
뿐만 아니라 투명 필름을 수용하지만,
보완하는 영화 분석 기능을 제공하는
기존의 타원 편광과 반사광을. 세 가지
기술 기술은 이러한 전환을 보여줍니다.

결과 (한국어) 3:

간섭현미경, 전통적으로 국한하지 않았다 불투명 구조 표면
지형 측량 지닌
때문에 과도 더 기술 을 수 있을 뿐만 아니라
투명 필름 일종의 박막 분석 능력 하지만

제공 보충 일반 타원형 한사코 선물 및 반사.세
기술 설명 이런 바뀌었다.