此批产品主要失效为F7失效。取70pcs不良品复测,全为F7不良,表现为IDSS偏大卡在70-110nA之间。将此4pcsF7样品开盖和炮弹 번역 - 此批产品主要失效为F7失效。取70pcs不良品复测,全为F7不良,表现为IDSS偏大卡在70-110nA之间。将此4pcsF7样品开盖和炮弹 한국어 말하는 방법

此批产品主要失效为F7失效。取70pcs不良品复测,全为F7不良,表现

此批产品主要失效为F7失效。取70pcs不良品复测,全为F7不良,表现为IDSS偏大卡在70-110nA之间。将此4pcsF7样品开盖和炮弹坑,未发现问题,为芯片自身原因,反馈客户
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F7 실패에 대 한 제품 실패의이 배치. 70pcs 나쁜 제품, 가난한 F7 IDSS kcal 70-110nA 사이 특징의 재 시험을 가져가 라. 이 4pcsF7 샘플 뚜껑 열고 포탄 구멍 및 칩, 고객의 의견으로 아무 문제를 발견
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제품 고장의 F7의이 배치의 주요 실패. 가지고 70pcs는 결함이있는 제품을 다시 테스트, 70-110nA 사이에 큰 카드 IDSS에 대한 F7 성능 저하에 대한 모든. 이 4pcsF7 샘플 구덩​​이 뚜껑 껍질이 더 문제는, 칩 자체, 의견에 대한 이유를 찾을 수없는
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이 제품들은 주요 효력을 위해 F7 장애.찾다 70pcs 불량 다시 측정 전 위해 F7 불량, 표현 IDSS 한사코 종결자 70-110nA 사이에 있다.장차 이 4pcsF7 샘플 뚜껑, 포탄 구덩이, 아직 문제를 발견하면 칩 자신의 원인 위해 피드백 고객
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