Dear Gao:其实去年也发生过DIVID 问题的．当时FAB厂的分

Dear Gao:

其实去年也发生过DIVID 问题的．
当时FAB厂的分析报告反馈Assembly时 有可能引起芯片污染等现象．
只是提示贵司以前有过这种现象．．一方面也请贵司也检查EMC等封装时的状态．
当时批次是
P3M526(PDT1428066N)
P3M579 (PDT1429009N)
P42A20 (PDT1429044N)

결과 (한국어) 1:

친애 하는 오:DIVID 문제가 지난해 발생 했습니다.그건 팹 분석 보고서 어셈블리 칩 등 오염 현상을 일으킬 가능성이 높습니다. 그냥 팁이 셨... 또한 당신의 EMC 패키지 상태 확인 하시기 바랍니다.때 일괄 처리는P3M526(PDT1428066N)P3M579 (PDT1429009N)P42A20 (PDT1429044N)

결과 (한국어) 2:

친애하는 가오 : 사실, 지난해는 DIVID 문제가 발생했습니다. FAB 공장 분석 보고서는 오염 현상 칩 피드백 조립을 일으킬 가능성이 있었다. 당신의 회사가 직전이 현상을했다 팁. . 한 손으로도 기업의 상태 EMC와 다른 패키지를 확인하시기 바랍니다. 그 때 배치는 P3M526 (PDT1428066N) P3M579 (PDT1429009N) P42A20 (PDT1429044N)

결과 (한국어) 3:

Dear Gao:

사실 작년에 것도 있었던 DIVID 문제.
당시 FAB 공장의 분석 보고서 피드백 Assembly 때 일으킬 가능성이 칩 오염 등 현상.
그냥 힌트 귀사에서 전에 이런 현상이 있다.. 한편으로는 제발 귀사에서 것도 검사 EMC 등의 패키지 때 상태.
당시 lot 것은
P3M526 (PDT1428066N)
P3M579 (PDT1429009N)
P42A20 (PDT1429044N)