JEDEC specification JESD22-A108C, s

JEDEC specification JESD22-A108C, section 4.2.1 [1] addresses HTRB testing of power devices and defines the acceptable test condition as one where the ambient temperature keeps the junction temperatures of the DUTs at or above 125 °C. A108C also declares that the TJ of the DUTs should not exceed the TJMAX specified in the manufacturer’s data sheet (typically 150 °C, for Silicon devices).

결과 (한국어) 1:

JEDEC 규격 JESD22-A108C, 4.2.1 [1] HTRB 전원 장치 테스트 해결 섹션과 어디 주위 온도 유지 교차점은 Dut의 온도가 125 ° c 이다. 그 이상으로 허용 테스트 조건 정의 A108C 또한 선언 하는 Dut의 TJ 제조업체의 데이터 시트 (일반적으로 150 ° C, 실리콘 장치)에 지정 된 TJMAX을 초과 하지 않아야 합니다.

결과 (한국어) 2:

JEDEC 규격 JESD22-A108C 4.2.1 절 [1] 파워 디바이스의 HTRB 테스트를 해결하고, 주위 온도에서 또는 125 ° C 이상 DUT들의 접합 온도를 유지 한 바와 같이 허용 가능한 테스트 조건을 정의한다. A108C 또한 DUT들의 TJ는 제조자의 데이터 시트 (실리콘 디바이스에 대한 통상적 150 ° C)에 규정 TJMAX를 초과하지 않아야 함을 선언.

결과 (한국어) 3:

JEDEC 규범 jesd22-a108c, 4.2.1 축제 [1] 주소 확인 테스트 출력 장치 및 정의 수락 테스트 조건, 환경 온도를 유지하다 DUT 의 경계 곳 온도 그 글자 암기가 이상 ° C. a108c 또 발표했다 DUT 있는 TJ 초과해서는 안 된다 메이커 데이터 시트 중 지정한 최고 결혼 원 (일반적으로 은 150 ° c, 실리콘 장치).