通过以上分析可知，该产品失效非芯片自身原因造成，该批产品我司抽测合格率

通过以上分析可知，该产品失效非芯片自身原因造成，该批产品我司抽测合格率在97%以上，抽测会存在微小偏差，但足以保证产品最终合格率在95%以上。

결과 (한국어) 1:

위의 분석을 바탕으로, 우리 그 비 칩 자체 97% 이상, 총 제품 %95% 이상의 패스를 확인 하는 데 충분 하지만 사소한 편차에서에서 우리의 샘플링 레이트 제품, 제품의 실패의 원인이 알으십시오.

결과 (한국어) 2:

상술 한 분석을 통해, 비 - 칩 제품 오류가 자신의 이유로 인해, 배치 샘플링 샘플링 검사에 약간 편차가 될 것이지만, 충분히 보장하기 위해, 97 % 이상의 합격률에서 제품을 테스트하는 95 % 이상의 최종 생성물 자격 레이트.

결과 (한국어) 3:

이상의 분석에 통해 알 수 있다, 이 제품은 효력을 비 칩 자신의 원인 때문에 그 제품들은 당사는 추출하여 측량하다 합격률이 지금 97% 이상 추출하여 측량하다 인 존재 작은 편차 하지만 충분히 보증 제품 최종적으로 합격률이 지금 95% 이상.